基于场景理解和视觉推理的光电集成芯片表面缺陷检测方法研究
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所属单位：4a4321c94a2af4ad014a2af5f5e60096
负责人姓名：顾寄南
项目性质：基于场景理解和视觉推理的光电集成芯片表面缺陷检测方法研究
项目级别：1
立项时间：2023-09-11
计划完成时间：2027-12-01
开始日期：2024-01-01
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